论文专著:
在IEEE Trans. on VLSI,J. Electron. Test.,《计算机学报》等国内外刊物和IEEE ITC, VTS, DATE等著名国际学术会议上发表论文100余篇(其中SCI收录15篇,EI收录70篇以上)。
出版专著:
1 Huawei Li, Dawen Xu, Yinhe Han, K.-T. Cheng, Xiaowei Li, “nGFSIM: A GPU-Based 1-to-n-Detection Fault Simulator and its Applications,” Proc. IEEE 41st International Test Conference (ITC’10), Paper 12.1, Austin, USA, Oct. 2010.
2 Huawei Li, Peifu Shen, and Xiaowei Li, “Robust Test Generation for Crosstalk-Induced Path Delay Faults,” 24th IEEE VLSI Test Symposium (VTS’06), Berkeley, CA, USA, May 2006.
3 Huawei Li, and Xiaowei Li, “Selection of Crosstalk-induced Faults in Enhanced Delay Test,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Vol. 21, No.2, 2005, pp.181-195.
4 Huawei Li, Yue Zhang, and Xiaowei Li, “Delay Test Pattern Generation Considering Crosstalk-induced Effects,” IEEE 12th Asian Test Symposium (ATS’03), Xi’an, China, Nov. 2003, pp.178-183.
5 Huawei Li, Zhongcheng Li, and Yinghua Min, “Reduction of Number of Paths to be tested in Delay Testing,” Journal of Electronic Testing: Theory and Applications, Vol.16, No.5, Oct. 2000, pp. 477-485.
6 Huawei Li, Zhongcheng Li, and Yinghua Min, "Delay Testing with Double Observations," IEEE 7th Asian Test Symposium (ATS’98), Singapore, Dec. 1998, pp. 96-100.
7 Ying Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, Yu Hu, “Codeword Selection for Crosstalk Avoidance and Error Correction on Interconnects,” IEEE 26th VLSI Test Symposium (VTS’08), San Diego, CA, USA, April 2008, pp.377-382.
8 Minjin Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Multiple Coupling Effects Oriented Path Delay Test Generation,” IEEE 26th VLSI Test Symposium (VTS’08), San Diego, CA, USA, April 2008, pp.383-388.
9 Minjin Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Static Crosstalk Noise Analysis with Transition Map,” 4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Delta’08), Hongkong, Jan. 2008, pp.462-465.
10 Xiang Fu, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “Robust Test Generation for Power Supply Noise induced Path Delay Faults”, Proc. of 13th Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC’08), Seoul, Korea, Jan. 2008, pp.659-662.
11 Hui Liu, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “A Scan-Based Delay Test Method for Reduction of Overtesting,” 4th IEEE International Symposium on Electronic Design, Test & Applications (Delta’08), Hongkong, Jan. 2008, 521-526
12 Peifu Shen, Huawei Li, Yongjun Xu, and Xiaowei Li, “Non-robust Test Generation for Crosstalk-Induced Delay Faults,” Proc. Of 14th IEEE Asian Test Symposium (ATS’05), Calcutta, India, 2005, pp.120-123.
13 Xiang Fu, Huawei Li, Xiaowei Li, “Testable Critical Path Selection Considering Process Variation,” IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E93-D, No.1, 2010, pp.59-67.
14 Ying Zhang, Huawei Li, Xiaowei Li, “Selected Crosstalk Avoidance Code for Reliable Network-on-Chip,” Journal of Computer Science and Technology, Vol. 24, No. 6, 2009, pp.1074-1085.
15 Songwei Pei, Huawei Li, Xiaowei Li “Flip-flop Selection for Transition Test Pattern Reduction Using Partial Enhanced Scan,” Proc. IEEE 15th Pacific Rim International Symposium on Dependable Computing (PRDC’09), 2009, pp.75-80.
16 Zijian He, Tao Lv, Huawei Li, Xiaowei Li, “Fast Path Selection for Testing of Small Delay Defects Considering Path Correlations”, Proc. IEEE 28th VLSI Test Symposium (VTS’10), San Diego, California, USA, April 2010, pp.3-8.
17 Songwei Pei, Huawei Li, Xiaowei Li, “An On-Chip Clock Generation Scheme for Faster than-at-Speed Delay Testing”, Proc. of DATE 2010, Germany, pp.1353-1356.
18 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Clustering of Behavioral Phases in FSMs and its Applications to VLSI test,” Science In China, Serial F, Vol. 45, No.6, 2002, pp. 462-478.
19 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “An RT-level ATPG Based on Clustering of Circuit States,” IEEE 10th Asian Test Symposium, Japan, Nov. 2001, pp.213-218.
20 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Refinement of Finite-State Machines,” 7th International Conf. on Computer-Aided Design and Computer Graphics, 2001.
21 Zhigang Yin, Yinghua Min, Xiaowei Li, and Huawei Li, “A Novel RT-Level Behavioral Description Based ATPG Method,” Journal of Computer Science and Technology, Vol.18, No.3, 2003, pp.308-317.
22 Yinhe Han, Yu Hu, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra, “Embedded Test Decompressor to Reduce the Required Channels and Vector Memory of Tester for Complex Processor Circuit”, IEEE Transactions on VLSI System, May 2007, Vol.15, No.5, pp.531-540.
23 Yinhe Han, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra, “Embedded Test Resource for SoC to Reduce Required Tester Channels Based on Advanced Convolutional Codes,” IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Vol.55, No.2, April, 2006, pp.389-399.
24 Yinhe Han, Huawei Li, Xiaowei Li, Anshuman Chandra, “Response Compaction for system-on-a-chip Based on Advanced Convolutional Codes,” Science In China, Serial F, Vol.49, No.2, 2006, pp.262-272.
25 Yinhe Han, Yu Hu, Xiaowei Li, Huawei Li, Anshuman Chandra and Xiaoqing Wen, "Wrapper Scan Chains Design for Rapid and Low Power Testing of Embedded cores", IEICE Transactions on Information and Systems, Vol.E88-D, No.9, 2005, pp.2126-2135.
26 Huawei Li, Yinghua Min, and Zhongcheng Li, “Evaluation of Dispersity Routing Strategies in Anonymous Communication,” The 2004 Joint Conference of the 10th Asia-Pacific Conference on Communications and the 5th International Symposium on Multi-Dimensional Mobile Communications, Beijing, China, 2004, pp. 534-538.
27 Tao Lv, Huawei Li, Xiaowei Li, "Automatic selection of internal observation signals for design verification," Proc. IEEE 27th VLSI Test Symposium(VTS’09), Santa Cruz, USA, May, 2009, pp. 203-208.
28 Da Wang, Xiaoxin Fan, Xiang Fu, Hui Liu, Ke Wen, Huawei Li, Yu Hu, Xiaowei Li, “The Design-for-Testability Features of A General-Purpose Microprocessor,” IEEE 38th International Test Conference 2007 (ITC’07), Santa Clara, California, USA, Paper 9.3, Oct. 2007.
29 Shuguang Gong, Huawei Li, and Xiaowei Li, “An Innovative Free Memory Design for Network Processors in Home Network Gateway,” IEEE Transactions on Consumer Electronics, Vol.51, No.4, Nov. 2005, pp.1182-1187.
30 Tao Lv, Tong Xu, Yang Zhao, Huawei Li, Xiaowei Li, “Bug Analysis and Corresponding Error Models in Real Designs,” Proc. of IEEE HLDVT 2007, USA, Nov. 2007.
31 Fei Wang, Yu Hu, Huawei Li, Xiaowei Li, Yu Huang, Jing Ye, “Deterministic Diagnostic Pattern Generation for Compound Defects,” Proc. IEEE International Test Conference 2008 (ITC’08), Santa Clara, California, USA, Paper 14.1, Oct. 2008.
32 Lei Zhang, Yinhe Han, Qiang Xu, Xiaowei Li, Huawei Li, "On Topology Reconfiguration for Defect-Tolerant NoC-Based Homogeneous Manycore Systems", IEEE Transactions on VLSI Systems, Vol.17, Sept. 2009, pp.1173-1186.
发表中文论文:
1 基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 王杰; 梁华国; 李华伟; 闵应骅; 李晓维 合肥工业大学计算机与信息学院; 中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所 【中国会议】第六届中国测试学术会议论文集 2010-07-24
2 面向高可靠片上网络通信的低成本可重构路由算法 付斌章; 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室; 中国科学院研究生院 【中国会议】第六届中国测试学术会议论文集 2010-07-24
3 采用SCAC和DICE触发器的可靠片上网络路由器 张颖; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国中国科学院研究生院 【中国会议】第六届中国测试学术会议论文集 2010-07-24
4 ESDQL:一种评估小时延缺陷覆盖率的度量标准 朱雪峰; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集 2011-07-30
5 数字集成电路设计错误的静态检测系统 杨志; 吕涛; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中科院计算所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集 2011-07-30
6 一种面向差错容忍应用的数字系统故障关键性评估方法 方运潭; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第十四届全国容错计算学术会议(CFTC'2011)论文集 2011-07-30
7 考虑串扰影响的时延测试 张月; 李华伟; 宫云战; 李晓维 装甲兵工程学院信息工程系; 中国科学院计算技术研究所网络室; 中国科学院计算技术研究所网络室 【中国会议】第十届全国容错计算学术会议论文集 2003-09-01
8 芯片的失效分析及基于其的测试调度技术 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第十届全国容错计算学术会议论文集 2003-09-01
9 考虑内部分枝的状态覆盖方法 杨修涛; 鲁巍; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 【中国会议】全国第13届计算机辅助设计与图形学(CAD/CG)学术会议论文集 2004-08-01
10 针对线间串扰现象的静态定时分析 沈培福; 李华伟 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室; 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室 【中国会议】第三届中国测试学术会议论文集 2004-10-01
11 基于指令集的处理器时延测试产生方法 方红霞; 李华伟; 李晓维 国科学院计算技术研究所信息网络室; 国科学院计算技术研究所信息网络室 【中国会议】第三届中国测试学术会议论文集 2004-10-01
12 基于对平衡的SOC测试调度算法 胡瑜; 韩银和; 李华伟; 吕涛; 李晓维 中科院计算技术研究所信息网络室; 中科院研究生院; 中科院计算技术研究所信息网络室 【中国会议】第三届中国测试学术会议论文集 2004-10-01
13 面向存储器核的内建自测试 檀彦卓; 徐勇军; 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院研究生院 【中国会议】第三届中国测试学术会议论文集 2004-10-01
14 扫描测试结构中测试响应压缩电路设计 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第三届中国测试学术会议论文集 2004-10-01
15 一种嵌入式存储器的内建自修复机制 付祥; 王达; 李华伟; 胡瑜; 李晓维 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 【中国会议】第四届中国测试学术会议论文集 2006-08-01
16 时延测试在一款通用微处理器上的应用 刘慧; 胡瑜; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 【中国会议】第四届中国测试学术会议论文集 2006-08-01
17 一种用于片上容错通信的随机路由算法 张磊; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室先进测试技术实验室 【中国会议】第四届中国测试学术会议论文集 2006-08-01
18 基于片内PLL实速扫描测试的实现 范小鑫; 李华伟; 胡瑜; 李晓维 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 【中国会议】第四届中国测试学术会议论文集 2006-08-01
19 VLSI/SOC测试中的功耗主题—挑战性问题和现有解决方法 李华伟; 温晓青; 向东; 徐强; 王智弘; 李昂 中科院计算所; 日本九州工业大学; 清华大学; 香港中文大学; Verigy(上海); Synopsys 【中国会议】第五届中国测试学术会议论文集 2008-05-01
20 面向最大串扰噪声的测试生成方法 张旻晋; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室; 中国科学院研究生院 【中国会议】第五届中国测试学术会议论文集 2008-05-01
21 针对片上网络(NoC)芯片的单向虚拟测试总线 付斌章; 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室; 中国科学院研究生院 【中国会议】第五届中国测试学术会议论文集 2008-05-01
22 SOC总线串扰的精简MT测试集 张颖; 李华伟; 李晓维; 胡瑜 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【中国会议】第五届中国测试学术会议论文集 2008-05-01
23 面向高可靠片上网络通信的可重构路由算法 付斌章; 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2011-03-15
24 基于SAT的快速电路时延计算 何子键; 吕涛; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2011-03-15
25 用于RTL设计验证的静态错误检测方法 马丽丽; 吕涛; 李华伟; 张金巍; 段永颢 湘潭大学信息工程学院; 中国科学院计算技术研究所计算机系统结构重点实验室; 北京控制工程研究所 【期刊】计算机工程 2011-06-20
26 基于输出违例概率的时延向量测试质量评估 王杰; 梁华国; 李华伟; 闵应骅; 李晓维 合肥工业大学计算机与信息学院电子科学与应用物理学院; 中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所 【期刊】电子学报 2011-05-15
27 高性能处理芯片的测试和可靠性设计关键技术 李晓维; 李华伟; 韩银和; 胡瑜 中国科学院计算技术研究所 【期刊】中国质量 2012-06-01
28 面向最大串扰噪声的测试生成方法 张旻晋; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2009-04-15
29 SoC总线串扰的精简MT测试集 张颖; 李华伟; 李晓维; 胡瑜 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2009-04-15
30 基于CLP模型的HDL设计可观测性分析 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2009-05-15
31 无界模型检验中融合电路信息的SAT算法研究 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机学报 2009-06-15
32 基于CGF的直升机编队仿真技术 李华伟; 陈立云; 靳萌 军械工程学院计算机工程系 【期刊】四川兵工学报 2009-07-25
33 基于本体的信息可信度研究 钟诚; 赵志峰; 李华伟; 杨珍 镇江船艇学院计算机教研室 【期刊】情报杂志 2009-06-30
34 采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法 裴颂伟; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2010-09-15
35 组合电路中考虑串扰的布尔过程波形模拟 黄海; 李华伟 湘潭大学信息工程学院; 中国科学院计算技术研究所 【期刊】微计算机信息 2010-11-15
36 时序敏感的3D IC绑定优化方法 王杰; 张磊; 李华伟; 韩银和; 李晓维; 梁华国 合肥工业大学计算机与信息学院; 中国科学院计算机系统结构重点实验室中国科学院计算技术研究所 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2010-11-15
37 考虑工作负载影响的电路老化预测方法 靳松; 韩银和; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2010-12-15
38 RTL和门级结合的处理器时延测试产生方法 方红霞; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 北京; 中国科学院研究生院北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2006-01-30
39 覆盖状态内部分枝的测试向量生成 杨修涛; 鲁巍; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京; 中国科学院研究生院 【期刊】小型微型计算机系统 2006-04-30
40 基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究 韩银和; 李华伟; 李晓维; Anshuman Chandra 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院研究生院; Synopsys Inc; 700 E Middlefield Rd; Mountain View; CA 94043 【期刊】中国科学E辑:信息科学 2006-06-20
41 一种基于子元组划分的快速两维包分类算法 刘彤; 李华伟; 李晓维; 宫曙光 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院研究生院北京; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 【期刊】计算机研究与发展 2006-10-30
42 网络处理器中处理单元的设计与实现 李诚; 李华伟 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机工程 2007-01-20
43 用于片上网络的容错通信算法 张磊; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室 北京; 中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2007-04-30
44 采用片内PLL实现实速扫描测试的方案 范小鑫; 李华伟; 胡瑜; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所计算机先进测试技术实验室北京100080中国科学院研究生院北京; 中国科学院计算技术研究所计算机先进测试技术实验室北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2007-03-30
45 结合ATPG和SAT的无界模型检验前像计算方法 刘领一; 赵阳; 吕涛; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院研究生院北京; 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所计算机先进测试技术实验室北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2007-03-30
46 面向串扰时延效应的时序分析方法及在集成电路测试中的应用 张旻晋; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室; 中国科学院计算技术研究所系统结构重点实验室; 中国科学院研究生院北京 【期刊】计算机学报 2007-10-15
47 用于边缘网络的网络处理器的设计 张飞飞; 刘彤; 李华伟; 韩银和; 李晓维 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室 北京; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】微电子学与计算机 2008-01-05
48 一种无回溯的最长前缀匹配搜索算法 张飞飞; 李华伟; 韩银和 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室; 中国科学院计算机系统结构重点实验室 北京; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 【期刊】计算机工程 2008-05-20
49 双阈值CMOS电路静态功耗优化 徐勇军; 骆祖莹; 李晓维; 李华伟 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 清华大学计算机科学与技术系; 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2003-03-20
50 一种遵循IEEE 1149.1标准的可测试性设计结构 尹志刚; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】微电子学与计算机 2003-05-25
51 考虑串扰影响的时延测试 张月; 李华伟; 宫云战; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】微电子学与计算机 2003-11-25
52 适用于扫描测试中的测试响应压缩电路设计 韩银和; 李晓维; 李华伟 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院研究生院北京 【期刊】计算机研究与发展 2005-07-16
53 基于双核扫描链平衡的SoC测试调度 胡瑜; 韩银和; 李华伟; 吕涛; 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院计算技术研究所信息网络室 北京; 中国科学院研究生院北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2005-10-20
54 应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法 韩银和 ; 李晓维 ; 徐勇军 ; 李华伟 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 北京 【期刊】电子学报 2004-08-25
55 针对串扰引起的时延故障的测试产生 张月; 李华伟; 宫云战; 李晓维 装甲兵工程学院信息工程系; 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室; 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室 北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2004-10-20
56 组合电路功耗敏感性统计分析 徐勇军 ; 韩银和 ; 李华伟 ; 李晓维 中国科学院计算技术研究所信息网络室; 中国科学院研究生院 北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2005-01-20
57 针对线间串扰现象的静态定时分析 沈培福; 李华伟 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室; 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室 北京; 北京师范大学计算机科学与技术系 【期刊】计算机工程与科学 2005-04-30
58 面向存储器核的内建自测试 檀彦卓 ; 徐勇军 ; 韩银和 ; 李华伟 ; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院研究生院 北京 【期刊】计算机工程与科学 2005-04-30
59 双倍可变观测点的时滞测试 李华伟; 李忠诚; 闵应骅 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室; 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 【期刊】电子学报 1999-11-25
60 带时间参数的测试产生 李华伟; 李忠诚; 闵应骅 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室; 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 【期刊】计算机学报 1999-04-12
61 基于测量的时延故障诊断 李华伟; 李忠诚; 闵应骅 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室; 中国科学院计算技术研究所CAD开放实验室 【期刊】计算机学报 1999-11-12
62 一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法 尹志刚; 李华伟; 李晓维 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】同济大学学报(自然科学版) 2002-10-30
63 一款通用CPU的存储器内建自测试设计 何蓉晖; 李华伟; 李晓维; 宫云战 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】同济大学学报(自然科学版) 2002-10-30
64 基于模拟的验证技术在CPU设计中的应用 吕涛; 李华伟; 李晓维; 樊建平 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】同济大学学报(自然科学版) 2002-10-30
65 通路时延测试综述 李华伟; 闵应骅; 李忠诚 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室; 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室; 中国科学院计算技术研究所信息网络实验室 北京 【期刊】计算机工程与科学 2002-04-30
66 通用CPU设计中的模拟验证技术及应用 吕涛; 李华伟; 尹志刚; 刘国华; 李晓维; 樊建平 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】系统仿真学报 2002-12-20
67 基于RTL行为模型的测试产生及时延测试方法(英) 李华伟; 李忠诚 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】中国科学院研究生院学报 2002-06-30
68 单跳变敏化 李华伟; 李忠诚; 闵应骅 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室; 中国科学院计算技术研究所CAD开放研究实验室 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2000-04-01
69 有限状态机的行为阶段聚类及其对测试的应用 李华伟; 闵应骅; 李忠诚 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】中国科学E辑:技术科学 2002-12-20
70 可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 李华伟; 李晓维; 尹志刚; 吕涛; 何蓉晖 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所; 中国科学院计算技术研究所 北京 【期刊】计算机工程与应用 2002-08-15
71 降低时延测试功耗的有效方法 李晓维; 李华伟; 骆祖莹; 闵应骅 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室; 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室; 清华大学自动化系; 中国科学院计算技术研究所信息网络研究室 北京 【期刊】计算机辅助设计与图形学学报 2002-08-20